新发布的Vanta Element-S分析仪采用了硅漂移探测器（SDD），除了对于不锈钢、铜合金、铝合金等常见合金型号快速辨别能力外，也满足了合金中一些轻元素（镁、铝和硅等）的检测需求。同时，该款分析仪也将涵盖土壤重金属分析、RoHS快速筛查、汽车催化剂检测等一系列高端应用的需求。
易诺科技作为奥林巴斯XRF/XRD产品的中国区授权一级代理商和环境/土壤应用的中国代理商，将同步引进Vanta Element-S分析仪。欲了解更多奥林巴斯新品讯息，敬请关注我们的微信公众号或致电0755-29016522。
在工业制造过程中，常常需要在质量控制过程中对材料进行检查，以及对合金、金属材料进行分拣，手持式X射线荧光（XRF）分析仪是完成废料回收、基本PMI（材料成分辨别）、金属制造和贵金属识别等应用的理想工具。
2020年5月26日，奥林巴斯发布了Vanta Element-S手持式X射线荧光（XRF）分析仪，除具备了Vanta系列分析仪检测迅速、结果可靠、坚固耐用、连通性好等特性外，其操作便捷性更是堪比智能手机，可选配的无线连通性能让用户在使用过程中感受到了智能制造的强大威力。
奥林巴斯Vanta Element-S手持式X射线荧光（XRF）分析仪在对材料进行分拣的过程中，庞大的数据量以及杂乱的材料常常导致检测的开展十分缓慢。Vanta Element-S分析仪配备有硅漂移探测器（SDD），可对元素进行分析，并在几秒内对合金进行牌号辨别和分拣，能够快速有效地测量黑色金属、铝、铜、不锈钢、镍和金的含量。完成对样品的检测之后，屏幕上会显示出清晰的牌号ID，以及镁、铝和硅等轻元素的比较信息。同时，分析仪的SDD探测器可以区分类似303和304不锈钢、6061和1100铝等相似的合金牌号，精准完成识别。鉴于金属检测、材料分拣等工作常常需要在较为恶劣的环境下开展，潮湿、灰尘会对仪器的性能产生较大影响。Vanta Element-S分析仪通过了IP54评级标准，具备防尘和防潮特性，而且通过了从1.2米（4英尺）高处坠落的测试（MIL-STD-810G），不会因偶尔掉落或推挤而损坏，可在–10°C到45°C的温度范围内无压力持续运行24小时。为了方便进行野外作业，Vanta Element-S分析仪配备了不锈钢面板和带有Kapton（聚酰亚胺）网格背衬的Prolene（聚丙烯纺织纤维）窗口。野外作业过程中需要更换窗口时，无需使用工具即可轻松揭下旧窗口，贴上新窗口。同时，分析仪体型小巧，仅重1.32公斤，方便携带，操作便携性堪比智能手机，大大提升了操作人员的工作效率。Vanta Element-S分析仪由奥林巴斯成熟的Axon™技术驱动，具有与Vanta系列其他分析仪相同的高计数率和稳定性，可使用户迅速获得检测结果和投资回报。除具备了Vanta系列分析仪检测迅速、结果可靠、坚固耐用、连通性好等基本特性，可选配的无线连通性能使Vanta Element-S分析仪顺应了工业4.0的变革潮流，走向智能化。分析仪可通过可选配的无线连通性能直接与奥林巴斯科学云系统连接，进行无线数据共享，并能够访问便捷的多设备管理工具、奥林巴斯链接移动应用程序或用户的网络。同时，分析仪还提供了1个用于存储检测结果的1 GB容量的MicroSD卡，以及两个便于导出数据的USB端口，便于用户管理海量数据。为了提高操作的灵活性，Vanta Element-S分析仪可与多种配件相兼容，其中包括Vanta野外台座、土壤支架、探头护罩和机套。
