欢迎访问深圳市易诺科技有限公司官网!

新闻资讯

NEWS CENTER

新闻资讯

NEWS CENTER

联系我们

CONTACT US

  • 联系人:谢先生
  • 电话:86-0755-29016522
  • 传真:86-0755-23769500
  • 邮编:518109
  • 手机:18926501065
  • 邮箱:sales@innuox.com
  • 网址:www.innuox.com
  • 地址:深圳市龙华新区龙观东路尚美时代大厦808

行业新闻 /

您现在的位置: 易诺首页>>新闻资讯>>行业新闻

激光诱导击穿光谱(手持式XRF)

点击次数:4 更新时间:2019-10-14

  激光诱导击穿光谱(LIBS)为手持式XRF和火花OES提供了一种替代技术,用于分析各种元素和合金。使用LIBS,在材料表面上产生与火花光发射光谱(OES)一样的等离子体。来自各种元素存在的光谱线被测量为等离子体冷却。特定线的波长显示存在的元素,并且给定波长处的光的强度与每个元素的浓度相关。

  SciAps很高兴地介绍使用激光诱发击穿光谱(LIBS)的手持式分析仪Z。在分析大多数合金,特别是亚铁,不锈钢和高温时,手持式LIBS有三种“必须”。那些包括a)高能量脉冲激光器,Z以50Hz重复率使用6mJ /脉冲,b)新的50Hz爆破清洗以消除样品研磨,以及c)Opti-Purge TM板上氩气吹扫10次或更好的精度。 (注意,Z也可以配备仅用于具有压缩气罐限制的场所的空气燃烧分析)。与传统的手持XRF相比,Z提供了FAC的一些优势。这些优点包括在低浓度(0.05%)下更快的Cr分析 - 通常为3秒。 Z是基于激光的,因此不存在如X射线的电离辐射。消除X射线会大大降低监管负担,特别是在核燃料发电厂。最后,Z提供移动OES的低原子序数表现(Li,Be,B,Mg,Al,Si),同时保持手持XRF的可移植性。