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​X-50

点击次数:3 更新时间:2019-10-14

  X-50具有PiN二极管技术,它是硅漂移探测器出现之前的上一代检测器。 PiN技术可以处理比硅漂移探测器低10倍 - 20倍的X射线比率,并且具有大约100 eV(更大的宽度)的分辨率。然而,对于许多应用,如不锈钢,高温和铜合金的基本分选,或分析土壤,矿石,粉末等中的基础或重金属,PiN技术令人满意。 X-50不会测量Mg,Al或Si,在某些材料中可以测量1%的P和S。与XD的SDD版本相比,检测限将高出5倍(升高)。

  然而,X-50具有吸引力的价格点,适用于工作良好的应用。 X-50包括与其他X型号(最大工作电压为40 kV),集成摄像头,视频和Android操作系统平台的高级X射线管。 X-50可用于合金,环境,采矿/勘探,工业和用户定制的应用。分析仪可以使用基本参数,康普顿正常化(EPA方法6200)或用户定义的经验校准进行工厂校准。